測(cè)試模式

IR

IR

輸出電壓

（DC）

范圍

0.500kV～5.000kV

精度

±（1.5％讀值+5V）

分辨率

1V

最大上限設(shè)定值

1.200TΩ

最大下限設(shè)定值

1.200TΩ

最小下限設(shè)定值

5MΩ

電壓上升時(shí)間

0.3s～999.9s 0=電壓上升時(shí)間關(guān)

測(cè)試時(shí)間

0.3s～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試

間隔時(shí)間

0.0s～999.9s 0=間隔時(shí)間關(guān)

自動(dòng)切換檔位

可設(shè)置為開(kāi)、關(guān)

放電時(shí)間

≤200ms

電 阻 表

測(cè)量范圍

5MΩ～1.200TΩ

分辨率

5MΩ～9.999MΩ：0.001MΩ ，10MΩ～99.99MΩ：0.01MΩ，

100MΩ～999.9MΩ：0.1MΩ ，1000MΩ～9999MΩ：1MΩ，

10.00GΩ～99.99GΩ：10MΩ , 100GΩ～999GΩ:0.1GΩ

1.000TΩ～1.200TΩ:0.001TΩ

誤差范圍

電壓 ≤ 1000V

5MΩ-1000MΩ：±5% 1000MΩ-9999MΩ：±10%

1000V<電壓≤ 2500V

5MΩ-1000MΩ：±5% 1000MΩ-9999MΩ：±10%

10.00GΩ～99.99GΩ：15%

2500V<電壓≤ 5000V

5MΩ-1000MΩ：±5% 1000MΩ-9999MΩ ：±10%

10.00GΩ～99.99GΩ：±15% 100GΩ～1.200TΩ: ±20%

計(jì) 時(shí) 器

范圍

0～999.9s

分辨率

0.1s

精度

±（0.1%+50ms）