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        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng)

        • 產(chǎn)品型號:
        • 更新時間:2024-11-27

        簡要描述:ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng)自動拍攝樣品中顯微圖像并拼接,然后自動獲取拼接大圖中礦物的色彩特征信息,與之前已經(jīng)建好的目的礦物種類數(shù)據(jù)庫進行對比,由此實現(xiàn)光學(xué)顯微鏡圖像中金屬礦物的自動識別和分類。

        產(chǎn)品詳情

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng)

         

        處理實際樣品時,本系統(tǒng)首先自動拍攝樣品中顯微圖像并拼接,然后自動獲取拼接大圖中礦物的色彩特征信息,與之前已經(jīng)建好的目的礦物種類數(shù)據(jù)庫進行對比,由此實現(xiàn)光學(xué)顯微鏡圖像中金屬礦物的自動識別和分類。

        礦物特征參數(shù)自動分析系統(tǒng)

        研發(fā)背景

        工藝礦物學(xué)是地質(zhì)、選礦、冶金交叉的一門學(xué)科。圍繞礦山生產(chǎn),主要查明礦石或選礦產(chǎn)品中有價礦物的工藝特性,可以為制定合理工藝流程、評價選礦指標(biāo)的合理性以及優(yōu)化流程提供指導(dǎo),大大提高礦山生產(chǎn)效益。

        礦物關(guān)鍵特征參數(shù)自動測量的必要性

        對于礦石及選礦產(chǎn)品中有價礦物的工藝特征參數(shù)的研究,傳統(tǒng)常用的方法是由工藝礦物學(xué)研究人員通過光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡對樣品中的礦物進行觀察和分析。但是,這種工作方式對技術(shù)人員的水平要求較高,而且由于是人工操作,工作效率相對較低,數(shù)據(jù)重復(fù)性差。

        因此,礦物特征參數(shù)自動分析系統(tǒng)(MineralCharacteristicParameterAuto-analysisSystem,簡稱:MCPAS)可有效提高工藝礦物學(xué)研究的效率和數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。尤其對于缺少工藝礦物學(xué)專業(yè)研究人員的礦山生產(chǎn)一線,一套可供非專業(yè)人員使用的礦物特征參數(shù)自動分析系統(tǒng),是目前各礦山選礦生產(chǎn)亟需配備的儀器。可以為選礦廠實現(xiàn)精細(xì)化管理提供重要的指導(dǎo)作用:能夠幫助現(xiàn)場技術(shù)人員及時了解磨礦細(xì)度是否合適,尾礦金屬損失是否合理,對現(xiàn)有流程的合理性做出評價,并指明選礦工藝流程優(yōu)化的方向。

        應(yīng)運而生的MCPAS

        光學(xué)顯微鏡是鑒定礦物常用和比較方便的一種手段,在礦石性質(zhì)和和特征參數(shù)研究方面簡便實用。北京礦冶總院和北京普瑞賽司儀器有限公司通力合作,在多年積累沉淀下來的豐富的工藝礦物學(xué)實踐經(jīng)驗的基礎(chǔ)上經(jīng)過深入研究,以金屬礦物本身所具有的反射色的色彩信息為依據(jù),利用現(xiàn)代數(shù)字圖像分析技術(shù),成功突破了光學(xué)顯微鏡圖像中金屬礦物的自動快速識別,以及準(zhǔn)確測量原礦、流程產(chǎn)品中目的礦物的粒度及解離度等重要工藝參數(shù)的技術(shù)難點,開發(fā)出了基于光學(xué)顯微鏡的礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng)。

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

        基本原理

        MCPAS以反射偏光顯微鏡為硬件基礎(chǔ),利用電荷耦合圖像傳感器CCDCharge-coupledDevice)把模擬圖像轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像,再利用數(shù)字圖像技術(shù)進行分析和測試。不同的礦物,尤其是金屬礦物,在反射偏光顯微鏡下會呈現(xiàn)出特征的反射色。以礦物顯微圖像中目的礦物呈現(xiàn)出的色彩特征RGBRed紅,Green綠,Blue藍(lán))為基礎(chǔ)進行HSVHue色調(diào),Saturation飽和度,Value明度)色彩模型轉(zhuǎn)換,并對礦物反射色色彩進行量化表征(圖1)。不同礦物的HSV值存在一定的差異(表1),以此建立起目的礦物數(shù)據(jù)庫,作為礦物自動識別的標(biāo)準(zhǔn)。

         

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        處理實際樣品時,本系統(tǒng)首先自動拍攝樣品的顯微圖像并拼接,然后采用腐蝕、膨脹、銳化以及平滑等圖像技術(shù)方法對礦物顯微鏡圖像進行預(yù)處理,使圖像中的目的礦物(銅、鉛、鋅、鐵的金屬硫化礦物和鐵的氧化礦物)的光學(xué)特征更加明顯。最后,自動將圖像中不同礦物的顆粒分割出來并獲取其色彩特征信息,與之前已經(jīng)建好的目的礦物種類數(shù)據(jù)庫進行對比,由此實現(xiàn)光學(xué)顯微鏡圖像中金屬礦物的自動識別。如下圖示:

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        系統(tǒng)組成

        MCPAS系統(tǒng)主要組成如圖3,包括:

        1)德國蔡司光學(xué)顯微鏡;

        2)智能控制系統(tǒng):能夠自動放大倍數(shù)、調(diào)整觀察方式及光強記憶;具有ECO環(huán)保模式,延長顯微鏡使用壽命;

        3)具備HDR功能的高清蔡司攝像頭:能夠?qū)崿F(xiàn)優(yōu)質(zhì)顏色還原;

        4)電動XY平臺及電動Z軸;

        5)專用樣品夾具九孔樣品夾具(粉樣)、四孔樣品夾具(塊樣);

        6)配備有礦物顯微特征參數(shù)分析系統(tǒng)的專業(yè)計算機。

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        產(chǎn)品功能

        本系統(tǒng)利用礦物在光學(xué)顯微鏡下光學(xué)特征的差異可對銅、鉛、鋅、鐵的金屬硫化礦物(自然銅、黃銅礦、斑銅礦、輝銅礦、銅藍(lán)、方鉛礦、閃鋅礦、黃鐵礦、磁黃鐵礦、白鐵礦)和鐵的氧化礦物(磁鐵礦、赤鐵礦)等目的礦物進行自動識別,根據(jù)樣品特性和客戶需求提供如下多樣化的測量數(shù)據(jù)。

        1)礦石原礦樣品中目的礦物的粒度及其相對比例;

        2)礦石原礦樣品中目的礦物之間的相對比例;

        3)磨礦產(chǎn)品中目的礦物的整體粒度;

        4)磨礦產(chǎn)品中目的礦物的單體解離度、與其他礦物連生的占有率;

        5)磨礦產(chǎn)品中以各種連生類型產(chǎn)出的目的礦物的粒度;

        6)選礦流程產(chǎn)品中目的礦物的整體粒度;

        7)選礦流程產(chǎn)品中目的礦物的單體解離度、與其他礦物連生的占有率;

        8)選礦流程產(chǎn)品中以各種連生類型產(chǎn)出的目的礦物的粒度。

        產(chǎn)品優(yōu)勢

        1)三軸控制精度:通過計算機軟件控制電動XY平臺(圖3)及電動Z軸(圖4)在三軸方向上的運動,對圖像進行自動聚焦、拍攝和拼接。

        2)圖像拼接:MCPAS通過對齊空間重疊的圖像并將其自動拼接,構(gòu)成一個無縫、高清晰的礦物樣品整體圖像(如下圖示),具有比掃描電鏡單個的視域圖像更高的分辨率和更大的視野。實現(xiàn)粗顆粒礦物測量數(shù)據(jù)的不失真,數(shù)據(jù)結(jié)果更準(zhǔn)確,讓開展原礦石的礦物特征參數(shù)測量成為可能。

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        3)去粘連的圖像處理(如下圖示):優(yōu)良的圖像處理功能可實現(xiàn)測量樣品顆粒的精準(zhǔn)分割,礦物邊界精準(zhǔn)識別和粘連顆粒的精準(zhǔn)分離,更精準(zhǔn)測定礦物單體粒度,保證測量所得數(shù)據(jù)的精度。

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        4)有效識別常見重要硫、鐵礦物:處理實際樣品時,系統(tǒng)首先自動拍攝樣品中顯微圖像并拼接,然后自動獲取拼接大圖中礦物的色彩特征信息,與之前已經(jīng)建好的目的礦物種類數(shù)據(jù)庫進行對比,由此實現(xiàn)光學(xué)顯微鏡圖像中金屬礦物的自動識別和分類,特別是可以區(qū)分在背散射條件下無法區(qū)分的礦物,如磁鐵礦與赤鐵礦、白鐵礦與黃鐵礦(如圖示)等。

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        5)根據(jù)用戶需求提供數(shù)據(jù):在測量單一礦物粒度、解離度的基礎(chǔ)上,根據(jù)實際需求可測量礦物集合體的粒度和解離度(如下圖);按照四分法為用戶提供不同礦物的連生比例及粒度分布特征(如下圖)。

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        6)大幅減少測量時間:相比于傳統(tǒng)的人工測量與基于掃描電鏡的礦物自動識別系統(tǒng),MCPAS可以實現(xiàn)多樣品連續(xù)處理,大幅減少測量礦物光片所需時間,提高工作效率(如表示)。

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 

        7)運行、維護成本低,使用壽命長;

        8)操作簡單、輕松駕馭:MCPAS操作流簡單易學(xué),非專業(yè)人士輕松上手(如下圖示)

        ZEISS/蔡司MCPAS-I礦物特征參數(shù)分析系統(tǒng) 


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